TEM attēlveidošana un analīze

TEM attēlveidošana un analīze
Informācija:
Transmisijas elektronu mikroskopija (TEM) ir kļuvusi par neaizstājamu analītisko instrumentu materiālu un pusvadītāju jomā. Tas ir elektronu optiskais instruments, kas izmanto augstas-enerģijas elektronu staru kūli kā apgaismojuma avotu un fokusē elektronus (ti, pārraidītos elektronus), kas iet cauri paraugam (aptuveni 10–150 nm biezumā) caur elektromagnētiskajām lēcām, veidojot attēlu. Apvienojot vairākas TEM metodes, informāciju par parauga morfoloģiju, kristāla struktūru un ķīmisko sastāvu var iegūt vienlaikus. TEM izšķirtspēja var sasniegt 0,12 nm, savukārt STEM izšķirtspēja var sasniegt 0,16 nm.
Nosūtīt pieprasījumu
Lejupielādēt
Apraksts
Tehniskie parametri

pakalpojuma saturs


TEM (spilgti-lauka attēli, ārpus-ass tumši-lauka attēli, vidus tumši-lauka attēli, augstas-izšķirtspējas attēli, vāji-staru tumši-lauka attēli); STEM (HAADF attēli, DF attēli, BF attēli, EDS enerģijas spektri, iDPC attēli); difrakcija (selektīvā difrakcija, konverģenta{7}}staru difrakcija, nanostaru difrakcija)

 

dienesta pakāpe


ar mikroshēmu{0}}saistītās nozares (vafeļu ražotnes, pusvadītāju iekārtu ražotāji, mikroshēmu projektēšanas uzņēmumi utt.); Materiālu{2}}saistītās nozares (universitātes, pētniecības institūti un materiālu pētniecības un attīstības uzņēmumi).

 

Pārbaudes cikls


Tipisks apstrādes laiks: 5-7 darba dienas.

 

Pakalpojuma fons


Pastiprinoties tehnoloģiskajām blokādēm ārvalstīs, vietējie augsto tehnoloģiju{0}}uzņēmumi liek lielāku uzsvaru uz neatkarīgu mikroshēmu pētniecības un izstrādes iespējām, kas ir veicinājis pusvadītāju iekārtu ražošanas uzplaukumu vietējā tirgū. Tā kā mikroshēmu ražošanas procesi turpina samazināties, mikroshēmu un pusvadītāju iekārtu izstrāde arvien vairāk balstās uz mikroskopiskiem analītiskajiem instrumentiem, piemēram, TEM. Transmisijas elektronu mikroskopijai (TEM) ir neaizstājama loma materiālu izpētē un izstrādē. Tas nodrošina būtisku mikroskopisku strukturālu informāciju,{4}}tostarp kristāla struktūras, defektus, elementu sastāvu un koncentrāciju,-kas palīdz analizēt materiāla īpašības un uzvedību. Tehnika arī

atvieglo fāzu pāreju un difūzijas procesu izpēti, piedāvājot vērtīgu ieskatu materiālu projektēšanā un optimizācijā.

 

mūsu priekšrocības


Uzņēmums Guangdian Metrology specializējas TEM analīzes testēšanas tehnoloģijā, kurā ir nozares{0}}vadošā ekspertu komanda un uzlabotas TEM analīzes iekārtas (Talos F200X G2). Mēs piedāvājam pielāgotus TEM analīzes testēšanas risinājumus, kas pielāgoti dažādu klientu pētniecības un attīstības vajadzībām. Mūsu uzņēmumam ir FIB{5}}TEM analīzes iespējas progresīviem procesiem līdz 7nm un zemākiem.

 

lietas daļa

 

product-348-348

product-526-266

 

 

Populāri tagi: tem attēlveidošanas un analīzes, Ķīnas tem attēlveidošanas un analīzes pakalpojumu sniedzējs

Nosūtīt pieprasījumu